X射線熒光分析
X射線熒光分析(XRF)技術(shù)，是利用初級X射線光子或其他微觀粒子激發(fā)待測樣品中的原子，使之產(chǎn)生熒光(次級X射線)而進行物質(zhì)成分分析和化學(xué)形態(tài)研究的方法。當(dāng)原子受到X射線光子(初級X射線)或其他粒子的激發(fā)使原子內(nèi)層電子電離而出現(xiàn)空位時，原子內(nèi)層電子便重新配位，較外層的電子躍遷到內(nèi)層電子空位，同時發(fā)射出次級X射線光子，即X射線熒光：較外層電子躍遷到內(nèi)層電子空位所釋放的能量等于兩電子能級的能量差，因此X射線熒光的波長對不同元素是不同的。